微流控芯片的分离物检测方法介绍
更新时间：2021-04-29 点击次数：1232
微流控芯片的微结构制作及键合封接完成后，需对微结构的形状、尺寸和表面粗糙度进行检测。目前常用的仪器有：表面轮廓仪和可标定的光学显微镜，可以给出微结构的表面轮廓和截面形状，并由此推算出微结构的深度和宽度尺寸;扫描电子显微镜(SEM)可以给出微结构的立体形貌和截面形状，并可推算出尺寸参数;使用原子力显微镜(AFM)，可对微结构的表面粗糙度进行观测。
微流控芯片的分离物检测方法
分离物的高灵敏度检测对于微流控芯片有着重要意义。目前，微流控芯片的检测方法大体上可以分为3类：光学检测、电化学检测及质谱学检测。
紫外吸收检测法是一种常规光学检测法，相应的检测器已经趋于成熟，但由于芯片的通道小、灵敏度不高，因此该方法已经不能够满足对低浓度和极微量样品分析的要求。激光诱导荧光检测是所有荧光检测中灵敏度*高的一种方法。多数情况下其检测下限可达10E-10—10E-12mol/L，所以该方法得到了广泛的应用。
电化学检测有安培法、电导法和电位法3种基本模式，其中安培法是应用普遍的一种方法。其基本原理是：测量化合物在电极表面受到氧化或还原反应时，会失去或得到电子，产生与分析物浓度成正比的电极电流，通过测量微通道中的电流即可得到溶液浓度的变化情况。电化学检测的灵敏度可以与荧光检测相媲美，同时，因为微电极可以加工到芯片上，因此更适合于微芯片的检测。
质谱检测的原理是根据分子质荷比的不同而达到检测的目的。其优点是能够提供分子空间结构信息，因此在生物大分子(如蛋白质)的结构研究方面具有独到之处。但因为质谱检测系统本身比芯片还要大，所以也很难实现整个系统的微型化。单一的检测方法将很难完成全部检测任务，因此应对多种检测方法的联合使用及新的检测方法进行研究。
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