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薄膜测厚仪要考虑的测量参数都有哪些?

发布时间:2021-08-25      点击次数:149
  薄膜测厚仪是一种薄膜厚度测量仪器,已经在很多行业得到应用,方便了很多人的测量工作。那么你对它有什么了解呢?
  1、测量范围广
  膜厚仪的测量范围很广,可以从薄膜到厚膜测量厚度,不会因测量材料的变化而给厚度测量操作带来任何不便。
  2、先进的厚度分析方法
  膜厚测量仪的厚度分析方法采用绝对反射光谱分析方法,与其他类型的测厚仪相比,在测量精度和测量速度方面具有显着优势。
  3、操作简单
  膜厚仪采用人性化设计,使仪器膜厚的测量更加容易,无需复杂的测量操作,相关测量人员只需进行简单的操作设备操作培训。
  4、外观新颖
  测量仪的外观也进行了全新的设计。整体外观更加独特新颖。相较于传统测厚仪呆板的外形,更吸引了人们的眼球。
  5、实现光学常数分析功能
  膜厚仪采用非光学数据分析方法,实现了光学常数的分析,不仅加快了测厚速度时间,而且还进一步提高了其精度,为人们提供了更准确的膜厚测量数据。
  薄膜测厚仪要考虑的测量参数都有哪些?
  1、测量波长
  薄膜测厚仪的测量波长在450nm-780nm之间,更宽的波长测量范围可以实现更快的光学测厚过程。
  2、测量精度
  本测量仪的测量精度在0.2nm误差范围内。
  3、卤素灯
  薄膜测厚仪的光源采用卤素灯,不仅提供了充足的光源照度,而且减少了对眼睛的伤害,它具有非常人性化的设计。
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