薄膜测厚仪是依据什么原理测量的？

　　薄膜的厚度是否均匀是检验薄膜性能的依据。显然，如果一批单层薄膜的厚度不均匀，不仅会影响薄膜的抗拉强度和阻隔性能，还会影响薄膜的后续加工。此外，合理控制产品厚度，不仅可以提高产品质量，还可以降低材料消耗，提高生产效率。因此，薄膜厚度是否均匀，是否与预设值一致，厚度偏差是否在范围内，都是薄膜能否具备一些特性指标的重要前提。薄膜厚度测量是薄膜制造行业的基本检测项目之一。

　　

　　薄膜测厚仪采用机械接触测量原理，截取一定尺寸的图案；通过控制面板上的按钮调整测头落在图案上；材料的厚度是通过两个接触面产生的压力和传感器测量的两个接触面积来测量的。

　　

　　1、接触面积和测量压力严格按照标准设计，同时支持各种非标定制。

　　

　　2、薄膜测厚仪测试时测头自动升降，有效避免人为因素造成的系统误差。

　　

　　3、支持自动和手动两种测量模式，方便用户自由选择。

　　

　　4、系统可自动进样，进样步骤、测点、进样速度等相关参数可由用户自行设置。

　　

　　5、测量结果的平均值、标准偏差等分析数据实时显示，方便用户判断。

　　

　　6、配置标准量块进行系统校准，确保测试的准确性和数据一致性。

　　

　　7、系统支持实时数据显示、自动统计、打印等多项实用功能。

　　

　　8、5寸触摸屏控制，方便用户进行测试操作和数据查看。

　　

　　9、薄膜测厚仪标准USB接口，方便系统与电脑的外部连接和数据交换。