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  • 薄膜测厚仪
    薄膜测厚仪

    更新时间:2021-07-08

    型号:

    浏览量:206

    薄膜测厚仪采用光谱干涉原理进行测量,具有非接触、无破坏、快速等特点,可在真空环境使用;可与大行程工件台配合,实现大面积膜厚自动测量。
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  • 微纳结构三维形貌测量仪
    微纳结构三维形貌测量仪

    更新时间:2021-03-16

    型号:

    浏览量:185

    微纳结构三维形貌测量仪系列微纳结构三维形貌检测仪,基于白光干涉扫描原理,以光波长作为测量基准,利用纳米级高精度扫描系统结合具有自主知识产权的高精度解析算法,实现连续或台阶突变微纳结构表面三维形貌重构,由此获得待测物体三维形貌、表面纹理、微观尺寸等各类外观参数测量结果。
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