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薄膜测厚仪的技术特征来了!

发布时间:2022-05-18      点击次数:89
  薄膜的厚度是否均匀是检验薄膜性能的依据,显然,如果一批单层薄膜的厚度不均匀,不仅会影响薄膜的抗拉强度和阻隔性能,还会影响薄膜的后续加工。此外,合理控制产品厚度,不仅可以提高产品质量,还可以降低材料消耗,提高生产效率。因此,薄膜厚度是否均匀,是否与预设值一致,厚度偏差是否在范围内,都是薄膜能否具备一些特性指标的重要前提。薄膜测厚仪薄膜厚度测量是薄膜制造行业的基本检测项目之一。
  

薄膜测厚仪

 

  薄膜测厚仪采用机械接触测量方式,严格符合标准要求,有效保证了测试的规范性和准确性。专业测量范围内的塑料薄膜、片材、隔膜、纸张、箔片、硅片等材料的厚度。采用机械接触测量原理,截取一定尺寸的图案;通过控制面板上的按钮调整测头落在图案上;材料的厚度是通过两个接触面产生的压力和传感器测量的两个接触面积来测量的。
  
  1、微电脑控制系统,大液晶显示、PVC操作面板,方便用户进行试验操作和数据查看。
  
  2、严格按照标准设计的接触面积和测量压力,同时支持各种非标定制。
  
  3、测试过程中测量头自动升降,有效避免了人为因素造成的系统误差。
  
  4、支持自动和手动两种测量模式,方便用户自由选择。
  
  5、系统自动进样,进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定。
  
  6、实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据,方便用户进行判断。
  
  7、配置标准量块用于系统标定,保证测试的精度和数据一致性。
  
  8、薄膜测厚仪系统支持数据实时显示、自动统计、打印等许多实用功能,方便快捷地获取测试结果。
  
  9、标准的USB接口,便于系统与电脑的外部连接和数据。
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