您好!欢迎访问安徽智微科技有限公司网站!
全国服务咨询热线:

13951825145

当前位置:首页 > 产品中心 > 芯片表征设备 > 膜厚测量仪 > 薄膜测厚仪

薄膜测厚仪

简要描述:薄膜测厚仪采用光谱干涉原理进行测量,具有非接触、无破坏、快速等特点,可在真空环境使用;可与大行程工件台配合,实现大面积膜厚自动测量。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2021-07-08
  • 访  问  量:127

相关文章

Related Articles

详细介绍

品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域医疗卫生,环保,化工,电子
产品名称:薄膜测厚仪
主要技术指标:
   测量范围(VIS):15nm—100μm
   测量重复性(RMS):0.086nm
   测量精度(与椭偏仪对比):0.25nm
   测量层数:大于3层
   使用光源:卤素灯;
入射角度:90°
   测试材料:透明或半透明薄膜材料;
   光斑尺寸:20μm—3mm(可选)
   测量时间:100ms—4ms;
   通信接口:USB2.0
产品特点:
采用光谱干涉原理进行测量,具有非接触、无破坏、快速等特点;
可在真空环境使用;可与大行程工件台配合,实现大面积膜厚自动测量。

薄膜测厚仪测试数据

薄膜测厚仪设备组成:
测试主机、光纤、校正件、测量头、夹持装置、设备箱、手提电脑。

产品咨询

留言框

  • 产品:

  • 您的单位:

  • 您的姓名:

  • 联系电话:

  • 常用邮箱:

  • 省份:

  • 详细地址:

  • 补充说明:

  • 验证码:

    请输入计算结果(填写阿拉伯数字),如:三加四=7
安徽智微科技有限公司
地址:安徽省合肥市经开区尚泽大都会A座2214
邮箱:1053185136@qq.com
传真:
关注我们
欢迎您关注我们的微信公众号了解更多信息:
欢迎您关注我们的微信公众号
了解更多信息