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不了解基础参数,怎么能用好薄膜测厚仪?

发布时间:2022-07-18      点击次数:58
  随着科技的发展,近年来,薄膜的市场需求不断增加。薄膜的厚度是产品的重要物理指标之一,它直接影响产品的产量、质量、经济效益和生产成本。薄膜厚度测量也是薄膜制造业的基本检测项目之一。薄膜测厚仪采用显微光谱法测量小范围内的反射率,可进行高精度的膜厚/光学常数分析。
  
  涂膜的厚度可以采用无损、非接触的方式进行测量,如各种薄膜、晶片、光学材料和多层薄膜等。测量时间方面,可实现1秒/点的高速测量,配备的软件即使是初次使用也能轻松分析光学常数。
  
 

薄膜测厚仪
 

 

  虽然薄膜测厚仪在使用中可以起到高精度的测厚作用,但这一切都需要建立在正确操作的条件下。如果操作方式错误,后果很严重。不仅不能保证测量数据的准确性,还会造成测厚仪的损坏,影响车身后期的测试性能。可见,正确使用膜厚仪很重要。
  
  不了解基础参数,怎么能用好薄膜测厚仪?基本参数方面主要包括测量原理、测量范围、测量误差、数据存储、统计值、最小曲率半径、最小测量面积、最小基材厚度、被测物体材料重量、薄膜测厚仪尺寸、等等这些数据虽然在产品说明书或者设备标识板上都有展示,但是做好初步的基础了解是非常有必要的。如果事先不知道,在正式操作中看,一般是赶不上的,但实际情况会很仓促。以测量原理为例,需要针对不同的被测对象确定合适的测量原理,如磁感应原理或涡流效应原理。如果一开始没有正确选择测量原理,那么下面的操作就会一步步出错。
  
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