不了解基础参数，怎么能用好薄膜测厚仪？

　　随着科技的发展，近年来，薄膜的市场需求不断增加。薄膜的厚度是产品的重要物理指标之一，它直接影响产品的产量、质量、经济效益和生产成本。薄膜厚度测量也是薄膜制造业的基本检测项目之一。薄膜测厚仪采用显微光谱法测量小范围内的反射率，可进行高精度的膜厚/光学常数分析。

　　

　　涂膜的厚度可以采用无损、非接触的方式进行测量，如各种薄膜、晶片、光学材料和多层薄膜等。测量时间方面，可实现1秒/点的高速测量，配备的软件即使是初次使用也能轻松分析光学常数。

　　
 

　　虽然薄膜测厚仪在使用中可以起到高精度的测厚作用，但这一切都需要建立在正确操作的条件下。如果操作方式错误，后果很严重。不仅不能保证测量数据的准确性，还会造成测厚仪的损坏，影响车身后期的测试性能。可见，正确使用膜厚仪很重要。

　　

　　不了解基础参数，怎么能用好薄膜测厚仪？基本参数方面主要包括测量原理、测量范围、测量误差、数据存储、统计值、最小曲率半径、最小测量面积、最小基材厚度、被测物体材料重量、薄膜测厚仪尺寸、等等这些数据虽然在产品说明书或者设备标识板上都有展示，但是做好初步的基础了解是非常有必要的。如果事先不知道，在正式操作中看，一般是赶不上的，但实际情况会很仓促。以测量原理为例，需要针对不同的被测对象确定合适的测量原理，如磁感应原理或涡流效应原理。如果一开始没有正确选择测量原理，那么下面的操作就会一步步出错。