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    薄膜测厚仪

    更新时间:2021-07-08

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    薄膜测厚仪采用光谱干涉原理进行测量,具有非接触、无破坏、快速等特点,可在真空环境使用;可与大行程工件台配合,实现大面积膜厚自动测量。
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